如何查詢SCI期刊的JCR分區？

1.Web of Science平臺查詢：使用瀏覽器打開Web of Science的官方網站。請注意，該網站可能需要注冊登錄才能使用。在搜索框中輸入想要查詢的期刊名稱，進行搜索。在搜索結果中找到對應的期刊，點擊進入期刊詳情頁面，可以找到期刊的影響因子以及分區情況。Web of Science通常提供JCR分區信息，包括Q1、Q2、Q3、Q4四個分區。

2.中科院文獻情報中心查詢：使用瀏覽器打開中科院文獻情報中心的官方網站，或進入其期刊分區查詢頁面，在搜索結果中找到對應的期刊，查看其分區情況。中科院文獻情報中心的分區主要是根據期刊超越指數來劃分，與JCR分區有所不同，但同樣具有參考價值。

3.聯系期刊編輯部：如果對某個期刊的分區情況有疑問，可以直接聯系雜志社或咨詢在線客服。

需要注意的是，如果目標期刊未被SCI收錄，則無法查詢到JCR分區信息；部分新興期刊或非英文期刊可能不在JCR數據庫中。在選擇期刊時，除了考慮分區情況外，還需要綜合考慮期刊的影響力、發表難度、研究領域等因素。

《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》雜志簡介：

《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》是一本專注于PHYSICS, APPLIED領域的English學術期刊，創刊于1988年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期Quarterly。該刊發文范圍涵蓋PHYSICS, APPLIED等領域，旨在及時、準確、全面地報道國內外PHYSICS, APPLIED工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。

《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》中文名稱：《半導體制造的IEEE交易》，ISSN號為0894-6507，E-ISSN號為1558-2345。Quarterly出版一期特刊，專注于物理：應用領域的關鍵概念，提供最新的研究概述。

《IEEE 半導體制造學報》致力于解決制造復雜微電子元件（尤其是超大規模集成電路 (VLSI)）的難題。制造這些產品需要精密微圖案化、精確控制材料特性、超潔凈工作環境以及化學、物理、電氣和機械過程的復雜相互作用。

該刊已被SCIE數據庫收錄，顯示了其學術影響力和認可度。此外，該期刊在中科院最新升級版分區表中，被歸類為工程技術大類4區，PHYSICS, APPLIED物理：應用小類3區，進一步證明了其在學術界的地位。

從影響因子來看，《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》雜志的影響因子為：2.3 ，這表明該期刊所發表的論文在學術界具有廣泛的影響力和引用率。該期刊的CiteScore為5.2，SJR為0.967，SNIP為1.237，顯示出其在國際學術界的重要影響力。