如何查詢SCI期刊的JCR分區(qū)？

1.Web of Science平臺查詢：使用瀏覽器打開Web of Science的官方網(wǎng)站。請注意，該網(wǎng)站可能需要注冊登錄才能使用。在搜索框中輸入想要查詢的期刊名稱，進(jìn)行搜索。在搜索結(jié)果中找到對應(yīng)的期刊，點(diǎn)擊進(jìn)入期刊詳情頁面，可以找到期刊的影響因子以及分區(qū)情況。Web of Science通常提供JCR分區(qū)信息，包括Q1、Q2、Q3、Q4四個分區(qū)。

2.中科院文獻(xiàn)情報中心查詢：使用瀏覽器打開中科院文獻(xiàn)情報中心的官方網(wǎng)站，或進(jìn)入其期刊分區(qū)查詢頁面，在搜索結(jié)果中找到對應(yīng)的期刊，查看其分區(qū)情況。中科院文獻(xiàn)情報中心的分區(qū)主要是根據(jù)期刊超越指數(shù)來劃分，與JCR分區(qū)有所不同，但同樣具有參考價值。

3.聯(lián)系期刊編輯部：如果對某個期刊的分區(qū)情況有疑問，可以直接聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

需要注意的是，如果目標(biāo)期刊未被SCI收錄，則無法查詢到JCR分區(qū)信息；部分新興期刊或非英文期刊可能不在JCR數(shù)據(jù)庫中。在選擇期刊時，除了考慮分區(qū)情況外，還需要綜合考慮期刊的影響力、發(fā)表難度、研究領(lǐng)域等因素。

《Ieee Design & Test》雜志簡介：

《Ieee Design & Test》是一本專注于COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE領(lǐng)域的English學(xué)術(shù)期刊，創(chuàng)刊于2013年，由IEEE Computer Society出版商出版，出版周期6 issues/year。該刊發(fā)文范圍涵蓋COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE等領(lǐng)域，旨在及時、準(zhǔn)確、全面地報道國內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動態(tài)等。

《Ieee Design & Test》中文名稱：《IEEE設(shè)計與測試》，ISSN號為2168-2356，E-ISSN號為2168-2364。6 issues/year出版一期特刊，專注于計算機(jī)：硬件領(lǐng)域的關(guān)鍵概念，提供最新的研究概述。

《IEEE 設(shè)計與測試》提供原創(chuàng)作品，介紹用于設(shè)計和測試微電子系統(tǒng)（從設(shè)備和電路到完整的片上系統(tǒng)和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側(cè)重于當(dāng)前和近期的實踐，包括教程、操作方法文章和真實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術(shù)進(jìn)步以及技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者的觀點(diǎn)。主題包括半導(dǎo)體 IC 設(shè)計、半導(dǎo)體知識產(chǎn)權(quán)模塊、設(shè)計、驗證和測試技術(shù)、制造和產(chǎn)量設(shè)計、嵌入式軟件和系統(tǒng)、低功耗和節(jié)能設(shè)計、電子設(shè)計自動化工具、實用技術(shù)和標(biāo)準(zhǔn)。

該刊已被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄，顯示了其學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該期刊在中科院最新升級版分區(qū)表中，被歸類為工程技術(shù)大類4區(qū)，COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機(jī)：硬件小類4區(qū)，進(jìn)一步證明了其在學(xué)術(shù)界的地位。

從影響因子來看，《Ieee Design & Test》雜志的影響因子為：1.9 ，這表明該期刊所發(fā)表的論文在學(xué)術(shù)界具有廣泛的影響力和引用率。該期刊的CiteScore為3.8，SJR為0.489，SNIP為0.757，顯示出其在國際學(xué)術(shù)界的重要影響力。