來源:學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:38:43
中科院分區(qū)在SCI期刊中具有重要地位,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
投稿參考:中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了重要依據(jù)。高分區(qū)期刊通常具有較高的學(xué)術(shù)聲譽(yù)和影響力,科研人員可以根據(jù)自己的研究領(lǐng)域和成果水平,選擇合適分區(qū)的期刊投稿,提高論文被接受和發(fā)表的機(jī)會(huì)。
學(xué)術(shù)評(píng)價(jià):國內(nèi)許多高校和科研機(jī)構(gòu)在對科研人員進(jìn)行績效考核、職稱評(píng)定、科研獎(jiǎng)勵(lì)等方面,常常將中科院分區(qū)作為重要的評(píng)價(jià)指標(biāo)之一。
學(xué)術(shù)影響力提升:進(jìn)入中科院分區(qū)表是對期刊學(xué)術(shù)質(zhì)量和影響力的一種認(rèn)可,尤其是對于一些新興期刊或發(fā)展中的期刊來說,獲得較好的分區(qū)能夠吸引更多優(yōu)秀的稿件和讀者,進(jìn)一步提升期刊的學(xué)術(shù)影響力。
雜志簡介
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》是一本在工程技術(shù)領(lǐng)域具有重要影響力的學(xué)術(shù)期刊,由出版社Springer US出版,出版地區(qū)為:UNITED STATES。
一、基本信息
創(chuàng)刊時(shí)間:1990年
出版周期:Bimonthly
ISSN:0923-8174,E-ISSN:1573-0727
定位:
《電子測試:理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志?!峨娮訙y試:理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評(píng)審,以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料,并通過其快速的出版周期,努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料,但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文,只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn),編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測試:理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章,以促進(jìn)對最新技術(shù)的更好理解。
《電子測試:理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題:
VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測試;
模擬和數(shù)字電子電路的測試;
微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測試;
故障建模;
測試生成;
故障模擬;
可測試性分析;
可測試性設(shè)計(jì);
可測試性綜合;
內(nèi)置自測試;
測試規(guī)范;
容錯(cuò);
形式驗(yàn)證硬件;
驗(yàn)證模擬;
設(shè)計(jì)調(diào)試;
測試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng);
自動(dòng)測試設(shè)備(ATE);
測試夾具;
電子束測試系統(tǒng);
測試編程;
測試數(shù)據(jù)分析;
測試經(jīng)濟(jì)性;
質(zhì)量和可靠性;
CAD 工具;
晶圓級(jí)集成器件測試;
可靠系統(tǒng)測試;
制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì);
故障模式分析和工藝改進(jìn)
二、內(nèi)容特色
內(nèi)容特色:文章風(fēng)格兼顧專業(yè)性與可讀性,適合不同背景的讀者。
三、學(xué)科領(lǐng)域與覆蓋范圍
主要學(xué)科:工程技術(shù)-工程:電子與電氣。
覆蓋范圍:該刊發(fā)文范圍涵蓋ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等領(lǐng)域。
四、學(xué)術(shù)影響力與評(píng)價(jià)
影響因子與分區(qū):《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的影響因子為1.1 ,JCR分區(qū):Q4區(qū),中科院分區(qū):大類學(xué)科:工程技術(shù),分區(qū):4區(qū),小類學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣,分區(qū):4區(qū)。
發(fā)文量與Gold OA占比:年發(fā)文量:43,Gold OA文章占比:9.56%。
Journal Of Electronic Testing-theory And Applications中科院分區(qū)
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
中科院分區(qū):中科院分區(qū)是SCI期刊分區(qū)的一種,是由中國科學(xué)院國家科學(xué)圖書館制定出來的分區(qū)。主要有兩個(gè)版本,即基礎(chǔ)版和升級(jí)版。2019年中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心期刊分區(qū)表推出了升級(jí)版,實(shí)現(xiàn)了基礎(chǔ)版和升級(jí)版的并存過渡;升級(jí)版是對基礎(chǔ)版的延續(xù)和改進(jìn),將期刊由基礎(chǔ)版的13個(gè)學(xué)科擴(kuò)展至18個(gè),科研評(píng)價(jià)將更加明確。
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