來源:學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:38:43
《Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena》中文名稱:《電子能譜及相關(guān)現(xiàn)象雜志》,創(chuàng)刊于1972年,由Elsevier出版商出版,出版周期Monthly。
《電子能譜與相關(guān)現(xiàn)象》雜志發(fā)表電子能譜和電子結(jié)構(gòu)領(lǐng)域的實驗、理論和應(yīng)用工作,涉及使用高能光子(>10 eV)或電子作為探針或檢測粒子進行研究的技術(shù)。
旨在及時、準確、全面地報道國內(nèi)外SPECTROSCOPY工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動態(tài)等。
機構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
UNITED STATES DEPARTMEN... | 12 |
CHINESE ACADEMY OF SCIE... | 11 |
CONSIGLIO NAZIONALE DEL... | 9 |
TECHNISCHE UNIVERSITAT ... | 9 |
CENTRE NATIONAL DE LA R... | 8 |
HELMHOLTZ ASSOCIATION | 8 |
UPPSALA UNIVERSITY | 8 |
CZECH ACADEMY OF SCIENC... | 7 |
HUNAN UNIVERSITY OF TEC... | 7 |
UNIVERSITY OF DELHI | 7 |
國家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
USA | 39 |
CHINA MAINLAND | 31 |
GERMANY (FED REP GER) | 30 |
India | 28 |
Japan | 26 |
Italy | 19 |
Russia | 15 |
Sweden | 15 |
France | 13 |
Poland | 12 |
文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
XPS in industry-Problems wit... | 15 |
Chemical bonding in carbide ... | 14 |
Chemical surface analysis on... | 11 |
Imaging XPS for industrial a... | 10 |
Automated electron-optical s... | 10 |
Electronic and magnetic prop... | 9 |
Reliable absorbance measurem... | 9 |
Electronic properties of com... | 8 |
Investigation of local geome... | 6 |
Effect of argon sputtering o... | 6 |
被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
J PHYS CHEM C | 181 |
PHYS REV B | 154 |
J CHEM PHYS | 151 |
PHYS CHEM CHEM PHYS | 151 |
J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
APPL SURF SCI | 139 |
ACS APPL MATER INTER | 89 |
PHYS REV A | 79 |
J PHYS CHEM A | 69 |
SURF INTERFACE ANAL | 64 |
引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
PHYS REV A | 148 |
PHYS REV LETT | 132 |
PHYS REV B | 131 |
J PHYS B-AT MOL OPT | 110 |
J CHEM PHYS | 102 |
SURF INTERFACE ANAL | 91 |
APPL SURF SCI | 56 |
SURF SCI | 54 |
ATOM DATA NUCL DATA | 51 |
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