來(lái)源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:38:23
《Ieee Transactions On Computer-aided Design Of Integrated Circuits And Systems》中文名稱：《集成電路和系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)IEEE Transactions》，創(chuàng)刊于1982年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期Monthly。
本期刊旨在發(fā)表個(gè)人感興趣的論文，這些論文涉及由模擬、數(shù)字、混合信號(hào)、光學(xué)或微波元件組成的集成電路和系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)領(lǐng)域。這些輔助工具包括系統(tǒng)級(jí)、物理和邏輯設(shè)計(jì)的方法、模型、算法和人機(jī)界面，包括：規(guī)劃、綜合、分區(qū)、建模、仿真、布局、驗(yàn)證、測(cè)試、硬件-軟件協(xié)同設(shè)計(jì)和各種復(fù)雜程度的集成電路和系統(tǒng)設(shè)計(jì)的文檔。重點(diǎn)是用于評(píng)估和設(shè)計(jì)集成電路和系統(tǒng)的性能、功率、可靠性、可測(cè)試性和安全性等指標(biāo)的設(shè)計(jì)工具和技術(shù)。
旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國(guó)內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)等。
| 機(jī)構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
| UNIVERSITY OF CALIFORNI... | 66 |
| TSINGHUA UNIVERSITY | 51 |
| DUKE UNIVERSITY | 47 |
| CHINESE UNIVERSITY OF H... | 37 |
| UNIVERSITY OF TEXAS SYS... | 37 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIE... | 36 |
| INDIAN INSTITUTE OF TEC... | 34 |
| STATE UNIVERSITY SYSTEM... | 29 |
| NATIONAL TSING HUA UNIV... | 28 |
| PURDUE UNIVERSITY SYSTE... | 24 |
| 國(guó)家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
| USA | 434 |
| CHINA MAINLAND | 291 |
| Taiwan | 74 |
| GERMANY (FED REP GER) | 67 |
| South Korea | 47 |
| India | 45 |
| France | 36 |
| Canada | 30 |
| England | 30 |
| Austria | 28 |
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| Resource Management for Impr... | 50 |
| Angel-Eye: A Complete Design... | 42 |
| NeuroSim: A Circuit-Level Ma... | 34 |
| QoS-Adaptive Approximate Rea... | 28 |
| Adjusting Learning Rate of M... | 26 |
| YodaNN: An Architecture for ... | 23 |
| The Promise and Challenge of... | 20 |
| An Efficient Methodology for... | 18 |
| DeepThings: Distributed Adap... | 17 |
| Affinity-Driven Modeling and... | 17 |
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 426 |
| IEEE T VLSI SYST | 259 |
| IEEE ACCESS | 255 |
| INTEGRATION | 140 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 95 |
| J CIRCUIT SYST COMP | 89 |
| IEEE T COMPUT | 78 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 69 |
| ACM T EMBED COMPUT S | 62 |
| J ELECTRON TEST | 62 |
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 426 |
| IEEE T VLSI SYST | 134 |
| IEEE T COMPUT | 106 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 68 |
| P IEEE | 55 |
| IEEE DES TEST | 52 |
| LAB CHIP | 47 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 44 |
| ACM T EMBED COMPUT S | 40 |
| IEEE T PARALL DISTR | 35 |
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