來源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:50
《Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence》中文名稱：《IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence》，創(chuàng)刊于1979年，由IEEE Computer Society出版商出版，出版周期Monthly。
《IEEE 模式分析與機器智能學(xué)報》發(fā)表有關(guān)計算機視覺和圖像理解的所有傳統(tǒng)領(lǐng)域、模式分析和識別的所有傳統(tǒng)領(lǐng)域以及機器智能的選定領(lǐng)域的文章，特別強調(diào)模式分析的機器學(xué)習(xí)。還涵蓋了視覺搜索技術(shù)、文檔和筆跡分析、醫(yī)學(xué)圖像分析、視頻和圖像序列分析、基于內(nèi)容的圖像和視頻檢索、面部和手勢識別以及相關(guān)的專用硬件和/或軟件架構(gòu)等領(lǐng)域。
旨在及時、準(zhǔn)確、全面地報道國內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動態(tài)等。
| 機構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIE... | 60 |
| UNIVERSITY OF CALIFORNI... | 47 |
| MICROSOFT | 29 |
| NANYANG TECHNOLOGICAL U... | 24 |
| TSINGHUA UNIVERSITY | 24 |
| CENTRE NATIONAL DE LA R... | 23 |
| PEKING UNIVERSITY | 23 |
| IMPERIAL COLLEGE LONDON | 21 |
| UNIVERSITY OF LONDON | 20 |
| UNIVERSITY OF SYDNEY | 20 |
| 國家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
| USA | 271 |
| CHINA MAINLAND | 266 |
| England | 81 |
| Australia | 62 |
| Singapore | 51 |
| GERMANY (FED REP GER) | 49 |
| France | 44 |
| South Korea | 35 |
| Italy | 34 |
| Switzerland | 31 |
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| DeepLab: Semantic Image Segm... | 1207 |
| Places: A 10 Million Image D... | 155 |
| HyperFace: A Deep Multi-Task... | 129 |
| Direct Sparse Odometry | 121 |
| Long-Term Temporal Convoluti... | 105 |
| Multimodal Machine Learning:... | 104 |
| A Survey on Learning to Hash | 84 |
| SIFT Meets CNN: A Decade Sur... | 79 |
| Virtual Adversarial Training... | 67 |
| Deeply Supervised Salient Ob... | 66 |
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE ACCESS | 4700 |
| MULTIMED TOOLS APPL | 1793 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 1411 |
| SENSORS-BASEL | 1301 |
| NEUROCOMPUTING | 1287 |
| PATTERN RECOGN | 1119 |
| IEEE T PATTERN ANAL | 947 |
| REMOTE SENS-BASEL | 887 |
| IEEE T CIRC SYST VID | 658 |
| PATTERN RECOGN LETT | 637 |
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T PATTERN ANAL | 947 |
| INT J COMPUT VISION | 342 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 274 |
| ACM T GRAPHIC | 169 |
| J MACH LEARN RES | 164 |
| PATTERN RECOGN | 83 |
| IMAGE VISION COMPUT | 56 |
| IEEE T MULTIMEDIA | 52 |
| COMPUT VIS IMAGE UND | 49 |
| IEEE T KNOWL DATA EN | 46 |
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