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如何查詢《Microelectronics Journal》雜志的JCR分區(qū)?

來源:學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:35

《Microelectronics Journal》在JCR最新升級版分區(qū)表中為:Q3

如何查詢SCI期刊的JCR分區(qū)?

1.Web of Science平臺查詢:使用瀏覽器打開Web of Science的官方網(wǎng)站。請注意,該網(wǎng)站可能需要注冊登錄才能使用。在搜索框中輸入想要查詢的期刊名稱,進(jìn)行搜索。在搜索結(jié)果中找到對應(yīng)的期刊,點擊進(jìn)入期刊詳情頁面,可以找到期刊的影響因子以及分區(qū)情況。Web of Science通常提供JCR分區(qū)信息,包括Q1、Q2、Q3、Q4四個分區(qū)。

2.中科院文獻(xiàn)情報中心查詢:使用瀏覽器打開中科院文獻(xiàn)情報中心的官方網(wǎng)站,或進(jìn)入其期刊分區(qū)查詢頁面,在搜索結(jié)果中找到對應(yīng)的期刊,查看其分區(qū)情況。中科院文獻(xiàn)情報中心的分區(qū)主要是根據(jù)期刊超越指數(shù)來劃分,與JCR分區(qū)有所不同,但同樣具有參考價值。

3.聯(lián)系期刊編輯部:如果對某個期刊的分區(qū)情況有疑問,可以直接聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服

需要注意的是,如果目標(biāo)期刊未被SCI收錄,則無法查詢到JCR分區(qū)信息;部分新興期刊或非英文期刊可能不在JCR數(shù)據(jù)庫中。在選擇期刊時,除了考慮分區(qū)情況外,還需要綜合考慮期刊的影響力、發(fā)表難度、研究領(lǐng)域等因素。

《Microelectronics Journal》雜志簡介:

《Microelectronics Journal》是一本專注于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領(lǐng)域的English學(xué)術(shù)期刊,創(chuàng)刊于1967年,由Elsevier出版商出版,出版周期Monthly。該刊發(fā)文范圍涵蓋ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等領(lǐng)域,旨在及時、準(zhǔn)確、全面地報道國內(nèi)外ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動態(tài)等。

《Microelectronics Journal》中文名稱:《微電子雜志》,ISSN號為0026-2692,E-ISSN號為1879-2391。Monthly出版一期特刊,專注于工程:電子與電氣領(lǐng)域的關(guān)鍵概念,提供最新的研究概述。

《微電子學(xué)雜志》自 1969 年創(chuàng)刊以來,是一個傳播微電子系統(tǒng)、電路和新興技術(shù)研究和應(yīng)用的國際論壇。《微電子學(xué)雜志》上發(fā)表的論文都經(jīng)過同行評審,以確保其原創(chuàng)性、相關(guān)性和時效性。因此,該雜志提供了有關(guān)微電子電路和系統(tǒng)的全球定期全面更新。

《微電子學(xué)雜志》誠邀撰寫描述以下所有領(lǐng)域重要研究和應(yīng)用的論文。涵蓋最新發(fā)展的綜合評論/調(diào)查論文也將予以考慮。《微電子學(xué)雜志》涵蓋電路和系統(tǒng)。該主題包括但不限于:模擬、數(shù)字、混合和射頻電路及相關(guān)設(shè)計方法;邏輯、架構(gòu)和系統(tǒng)級綜合;測試、可測試性設(shè)計、內(nèi)置自測試;面積、功率和熱分析與設(shè)計;混合域仿真與設(shè)計;嵌入式系統(tǒng);非馮諾依曼計算及相關(guān)技術(shù)和電路;高復(fù)雜度系統(tǒng)集成的設(shè)計和測試; SoC、NoC、SIP 和 NIP 設(shè)計和測試;3-D 集成設(shè)計和分析;新興器件技術(shù)和電路,如 FinFET、SET、自旋電子學(xué)、SFQ、MTJ 等。

也歡迎應(yīng)用方面,例如信號和圖像處理(包括密碼電路)、傳感器和執(zhí)行器(包括傳感器網(wǎng)絡(luò))、可靠性和質(zhì)量問題以及經(jīng)濟(jì)模型。

該刊已被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄,顯示了其學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外,該期刊在中科院最新升級版分區(qū)表中,被歸類為工程技術(shù)大類3區(qū),ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程:電子與電氣小類3區(qū),進(jìn)一步證明了其在學(xué)術(shù)界的地位。

從影響因子來看,《Microelectronics Journal》雜志的影響因子為:1.9 ,這表明該期刊所發(fā)表的論文在學(xué)術(shù)界具有廣泛的影響力和引用率。該期刊的CiteScore為4,SJR為0.39,SNIP為0.854,顯示出其在國際學(xué)術(shù)界的重要影響力。

其它數(shù)據(jù)分析對比

近年中科院分區(qū)趨勢圖

近年IF值(影響因子)趨勢圖

影響因子:是美國科學(xué)信息研究所(ISI)的期刊引證報告(JCR)中的一項數(shù)據(jù)。指的是某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個重要指標(biāo)。自1975年以來,每年定期發(fā)布于“期刊引證報告”(JCR)。

聲明:該作品系作者結(jié)合互聯(lián)網(wǎng)公開知識整合。如有錯漏請聯(lián)系我們,我們將及時更正。

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